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金刚石薄膜(高阻DOS )
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DOI(低阻金刚石薄膜)
产品名称:DOI(低阻金刚石薄膜Diamond?on?Oxide) 产品参数: 基底尺寸: dia4"x0.5mmSi晶向:±0.5°绝缘层:SiO2薄膜厚度:2um氧化层:1um电阻率:
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金刚石薄膜(高电阻DOI)
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高阻温度特性测定仪
低温介电常数适用于各种液体、金属氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物质的一项重要的物理性质,通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据。
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高阻温度特性测定仪
"本仪器主要适用于在不同温度下测试材料电阻的试验测量系统,主要测试材料的电阻温度变化关系。 仪器测试流程自动化实现和完成,并可以保存和导出试验数据。"
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芯硅谷 PVC薄膜
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瑞柯微 薄膜材料方阻测试仪FT-331
采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,提供通讯接口,PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.
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薄膜,片材在线测厚仪
。 双拉生产线由于生产速度快,薄膜精度要求高,对模头螺栓自动控制提出更高的要求。热电瑞美公司可以提供功率控制和温度控制二种模式供用户选择。相比于功率控制模式,温度控制由于增加了每个螺栓的温度反馈,可以
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FlowCam® + LO(光阻法功能)颗粒成像法+光阻法分析系统
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高阻测定仪/高阻仪/高阻计
一、设备名称:高阻测定仪 型号:GZ-I 二、设备用途:该设备是根据吉林大学PTC研究项目的需要而开发的用计算机控制PTC材料R-T曲线性能的
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